回路電阻測試儀改進(jìn)測量方式經(jīng)驗(yàn)探討
 

　　回路電阻測試儀改進(jìn)測量方式經(jīng)驗(yàn)探討 文章引言 從回路電阻測試的發(fā)展角度看，以前普遍采用常規(guī)的雙臂直流電橋測量變壓器線圈的直流電阻、高壓斷路器的接觸電阻，而這類電橋的測試電流僅為m*，難以發(fā)現(xiàn)變壓器線圈導(dǎo)電回路導(dǎo)體截面積減少的缺陷。在測量高壓開關(guān)導(dǎo)電回路接觸電阻時，由于受到接觸面和動靜觸頭間氧化層的影響，測量偏差大，掩蓋了真實(shí)的接觸電阻值。
 

　　因此，目前國家標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定對斷路器、隔離開關(guān)接觸電阻的測量電流不小于直流100A。100A或更大的直流電流，根據(jù)產(chǎn)生的壓降來計算斷路器導(dǎo)電回路的直阻值，從而判斷斷路器導(dǎo)電回路是否存在接觸不良等隱患。
 

　　目前采用的測量方法 目前現(xiàn)場試驗(yàn)使用的回路電阻測試儀原理是采用典型的四線制測量法，由高頻開關(guān)電源產(chǎn)生大于100A的直流測試電流，加在被試品兩端，測量出電流流過被測體產(chǎn)生的壓降，采樣電路同時對電壓輸入端和內(nèi)部電流分流器電壓進(jìn)行采樣，取得的信號經(jīng)放大器放大，由A/D轉(zhuǎn)換器將模擬信號轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號后，再經(jīng)微處理器對數(shù)據(jù)進(jìn)行濾波、運(yùn)算、處理，通過計算電壓值和電流值之比得出被測體的直流電阻值，后送顯示器顯示出此次測量的電流和電阻值。并可以在當(dāng)電流測試回路出現(xiàn)斷線或接觸不良時，儀器會根據(jù)電流分流器上的電壓判斷出電流回路接觸不良或開路。 現(xiàn)有測量方法存在的問題 按照以上常規(guī)設(shè)計原理設(shè)計的回路電阻測試儀在現(xiàn)場測試時發(fā)現(xiàn)，都普遍存在一個問題：當(dāng)真空濾油機(jī)測試儀電壓接線回路出現(xiàn)接觸不良或開路時，測試儀還會顯示一個數(shù)值，此時會出現(xiàn)以下幾種情況：
 

　　1)電壓回路開路，測試現(xiàn)場沒有強(qiáng)電場干擾： 這種情況下，由于放大器輸入的差模電壓基本為0，故儀器顯示的測試數(shù)值接近為0，如果測試人員有足夠的現(xiàn)場測試經(jīng)驗(yàn)，可以判斷出是儀器電壓回路測試線異常，將儀器電壓回路測試線異常排除后，可以得出終正確測試結(jié)果；如果測試人員沒有足夠的現(xiàn)場測試經(jīng)驗(yàn)，有可能會誤判測試儀出現(xiàn)問題，中斷測試，更換或返修儀器，延誤停電時間，給測試工作帶來不必要的麻煩。
 

　　2)電壓回路接觸不良 大多數(shù)情況下斷路器的接線端子在長期運(yùn)行后端子排外表面會產(chǎn)生氧化膜或油膜，當(dāng)回路電阻儀的電壓測試鉗夾接到這樣的端子排上時就可能產(chǎn)生接觸不良，既電壓測試線鉗夾本身也要產(chǎn)生一定的接觸電阻，該接觸電阻值達(dá)到與電壓采樣回路的內(nèi)阻值相當(dāng)時，將對測試結(jié)果產(chǎn)生嚴(yán)重影響。 設(shè)試品電阻為Rx,電壓采樣回路的輸入內(nèi)阻為Ri，電壓測試線鉗夾鉗接電阻為R1，儀器顯示虛假值為Riˊ(假設(shè)電流采樣不受影響)。此時儀器顯示的測量偽虛假值Riˊ=Rx×Ri/(R1+Ri)，可見儀器顯示虛假值Riˊ<斷路器實(shí)際電阻值Rx。可以看出，由于R1的存在，使得電壓采樣回路的輸入內(nèi)阻Ri與鉗夾鉗接電阻R1已經(jīng)成為分壓關(guān)系，既R1分壓越多，Ri就分壓越少，儀器顯示的測量值也就越小。假如斷路器的實(shí)際電阻值已超出極限上限值，而測試儀顯示值又在合格范圍內(nèi)，無論試驗(yàn)人員有無現(xiàn)場測試經(jīng)驗(yàn)，都將導(dǎo)致誤判，這種人工無法辨別的誤判，對設(shè)備的安全運(yùn)行是一種嚴(yán)重威脅。